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首页 产品展示 射频、微波信号产生与分析 相噪/信号源分析仪

APPH系列信号源分析仪/相噪分析仪

APPH系列是是一款功能齐全的高性能信号源分析仪(相位噪声分析仪),其型号范围为1 MHz至7、26或40 GHz。它提供了一组必不可少的测量功能,用于评估信号源(晶体振荡器,VCO,发射器,锁相环,频率合成器等,范围从VHF到微波频率),以及有源和无源非自激振荡设备,例如放大器或分频器。其内部独创的FPGA互相关引擎的混合信号系统架构可实现非常快速的信号处理和超低相位噪声灵敏度。

产品型号:
 
主机型号
采用内部参考
采用外部参考
APPH6040
1MHz ~ 7GHz
5MHz~7GHz
APPH20G
1MHz ~ 26GHz
5MHz ~ 18GHz
APPH40G
1MHz ~ 42GHz
5MHz ~ 18GHz

 

        

 

主要特征:
 
APPH系列是一款一体式紧凑型相位噪声测量系统,具有广泛的功能,可在0.001 Hz至100 MHz的偏移范围内实现低至-190 dBc/Hz的测量。
 
通过提供内部和外部参考选项,可以增加系统的灵活性和动态范围。内部基准可以提供快速的测量设置和快速的测量,而外部基准可以改善系统的本底噪声性能。
 
可编程的低噪声电源和偏置调谐电压端口可用于为DUT供电,而无需使用外部电源。
 
•非常易于使用,PC上的GUI软件可直接通过LAN、USB或GPIB接口对设备进行操作
•信号输入范围:1MHz至7GHz/26GHz/42GHz
•极低的仪器本底噪声(<-190dBc/Hz)
•偏移范围:0.01Hz至100MHz
•极快的相位噪声测量时间:10kHz至100MHz频偏时每次互相关次数小于0.004秒
•灵活的内外部参考
•3个独立可调谐电压源(-5~+22V)
•内置2个独立直流电压源(0~15V,每个600mA)
•10MHz外参考输入
•外触发输入
•紧凑、轻便、易携带:11kg

 

相位噪声灵敏度:标准和低噪声(选件LN)内部参考(1次互相关)

 

相位噪声灵敏度:标准和低噪声(选件LN)内部参考(100次互相关)

 

仪器GUI界面

 

主要测量功能:
 
•相位噪声测量
•绝对相位噪声、剩余相位噪声、附加相位噪声
•连续波、脉冲、突发测试模式
•高偏振或慢速调制
•内参考或外参考测试
•幅度噪声测量
•绝对
•连续波和脉冲测试模式
•高偏振或慢速调制
•仅内参考
•瞬态测量
•频率对时间
•相位对时间
•幅度对时间
•短期和长期频率稳定度/艾伦方差测量
•1s至10天
•一键压控振荡器(VCO)特性测量
•调谐、调谐灵敏度、推压,功率,电流,谐波和相位噪声
•FFT分析仪(1Hz~100MHz)
•频谱分析仪(5MHz~42GHz)
 
 
主要订货信息:
 

主机型号

描述

APPH6040

1MHz~7GHz信号源分析仪/相位噪声分析仪主机

APPH20G

1MHz~26GHz信号源分析仪/相位噪声分析仪主机

APPH40G

1MHz~42GHz信号源分析仪/相位噪声分析仪主机

选件

 

Option LN

超低噪声内部参考源(HW)

Option PULSE

脉冲信号相噪测量(SW)

Option BURST

突发模式信号相噪测量(SW)

Option AM

幅度噪声测量(SW)

Option APN

附加相位噪声测量(SW)

Option TRAN

瞬态信号分析(SW)

Option TSTAB

时间稳定度分析(SW)

Option LO

通过内部参考测量剩余相位噪声(HW)

Option VCO

VCO特征分析(SW)

Option SPEC

频谱分析仪(SW)

 

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APPH系列相位噪声分析仪和VCO测试仪—输入高达40GHz

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